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E+H雷達(dá)料位計的原理和性能

更新時間:2020-04-24      瀏覽次數(shù):4376
  E+H雷達(dá)料位計是非接觸式測量或TDR導(dǎo)波式測量,測量從參考點(diǎn)(即過程連接點(diǎn))到物料表面的間距,天線發(fā)出微波脈沖,在被測物料表面產(chǎn)生反射,并被雷達(dá)系統(tǒng)所接收。用于液體、漿料、泥漿和固體的連續(xù)、非接觸式物位測量。測量受介質(zhì)變換、溫度變化、氣體層或蒸汽的影響。
  充分利用了微波具有很好穿透性、對惡劣環(huán)境及被測物料適應(yīng)性強(qiáng)等特點(diǎn),采用世界上的大規(guī)模集成電路,將雷達(dá)原理、字信號處理技術(shù)和快速傅里葉變換(FFT)技術(shù)。采用連續(xù)式乍動測量,能測量液體、固體(塊狀、粉狀)料位,具有測距遠(yuǎn)、精度高等特點(diǎn)。
  雷達(dá)采用發(fā)射反射接收的工作模式,天線發(fā)射出電磁波經(jīng)被測對象表面反射后,再被天線接收,整個過程是“發(fā)射—反射—接收”的工作模式,電磁波從發(fā)射到接收的時間與到液面的距離成正比。E+H雷達(dá)料位計測量時發(fā)出的電磁波能夠穿過真空,需要傳輸媒介,具備受大氣、蒸氣、槽內(nèi)揮發(fā)霧影響的特點(diǎn),能用于揮發(fā)的介質(zhì),例如粗苯的液位測量。
  E+H雷達(dá)料位計的性能:
  1、兩線制技術(shù),經(jīng)濟(jì)型;
  2、非接觸測量:受介質(zhì)特性的影響;
  3、通過文顯示菜單輕松進(jìn)行現(xiàn)場操作;
  4、通過操作軟件實(shí)現(xiàn)簡便的組態(tài)、文件編制及診斷;
  5、具備2個頻率范圍-約6GHz及26GHz:無干擾,適用于任何應(yīng)用場合;
  6、HART或PROFIBUS-PA通信協(xié)議及基金會現(xiàn)場總線協(xié)議;
  7、高溫:適用于高達(dá)+200℃(392℉)的過程溫度,當(dāng)采用高溫天線時可達(dá)+400℃(752℉);
  8、帶有屏蔽管的桿式天線:可在狹窄的加接管及有冷凝和粘附的加接管內(nèi)可靠測量。